記者4月14日獲悉，由電子科技大學(xué)與成都高新區(qū)推進(jìn)的系統(tǒng)級(jí)集成電路檢測(cè)國(guó)家質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室正式獲批，成功進(jìn)入第一批國(guó)家質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室培育建設(shè)名單，這也是全國(guó)集成電路領(lǐng)域唯一的國(guó)家質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室。

作為該實(shí)驗(yàn)室的科研創(chuàng)新承載平臺(tái)，天府絳溪實(shí)驗(yàn)室與電子科技大學(xué)聯(lián)合成立先進(jìn)芯片測(cè)試與標(biāo)準(zhǔn)前沿研究中心（下稱“先進(jìn)芯片中心”），與電子科技大學(xué)、天府絳溪實(shí)驗(yàn)室以三位一體、協(xié)同創(chuàng)新模式，共同高標(biāo)準(zhǔn)推進(jìn)質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室建設(shè)，為我國(guó)系統(tǒng)級(jí)芯片檢測(cè)技術(shù)的自主可控，提供權(quán)威“標(biāo)尺”與“裁判”平臺(tái)。

據(jù)悉，該實(shí)驗(yàn)室將圍繞系統(tǒng)級(jí)集成電路性能表征、測(cè)試性分析與測(cè)試生成方法、檢測(cè)技術(shù)與設(shè)備、標(biāo)準(zhǔn)制定及質(zhì)量政策等方向開展系統(tǒng)研究，突破關(guān)鍵核心技術(shù)，打破國(guó)外技術(shù)與標(biāo)準(zhǔn)壟斷，為解決集成電路產(chǎn)業(yè)測(cè)試領(lǐng)域的“卡脖子”問題提供有力支撐。同時(shí)，將著力培養(yǎng)高水平創(chuàng)新人才，加速成果轉(zhuǎn)化與行業(yè)應(yīng)用，全面提升產(chǎn)業(yè)核心競(jìng)爭(zhēng)力，助力實(shí)現(xiàn)集成電路技術(shù)創(chuàng)新與產(chǎn)品質(zhì)量自主可控。

此外，先進(jìn)芯片中心將依托該實(shí)驗(yàn)室，構(gòu)建“測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)—測(cè)試設(shè)備—計(jì)量檢定溯源”三位一體的研發(fā)體系。中心將在測(cè)試?yán)碚撆c方法研究（標(biāo)準(zhǔn)研究）方面，開展先進(jìn)芯片檢測(cè)理論及方法的前沿探索，強(qiáng)化原始創(chuàng)新能力；在測(cè)試設(shè)備研制（檢測(cè)技術(shù)與設(shè)備研究）方面，聚焦自主可控的高端測(cè)試技術(shù)與裝備，全力突破“卡脖子”難題；在檢測(cè)設(shè)備計(jì)量檢定方法研究（溯源體系與鑒定規(guī)范）方面，重點(diǎn)攻關(guān)檢測(cè)計(jì)量核心技術(shù)，建立質(zhì)量檢定溯源體系，填補(bǔ)國(guó)內(nèi)空白。