5 月 25 日,華為芯片業(yè)務負責人何庭波在 IEEE 國際電路與系統(tǒng)研討會上正式發(fā)布τ(tāo)定律,提出以“時間縮微”替代“幾何縮微”,簡單來說,就是芯片競賽從此不看誰“做得小”,而看誰讓信號“跑得快”。
消息一經(jīng)發(fā)布,就在網(wǎng)上“炸”開,相關多個詞條登上熱搜,引起網(wǎng)友熱議。
有人說,韜定律是華為在先進制程嚴重受限、后摩爾時代“摩爾定律”經(jīng)濟邊際效應迅速遞減的背景下,做出的一個耳目一新的工程理論創(chuàng)新。那么,τ定律到底是什么呢?它和摩爾定律有什么關系?對我們的生活又有什么意義呢?
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圖源:某社交平臺
韜定律是什么,和摩爾定律到底有什么關系?
要想了解τ定律,那一定離不開摩爾定律,一句話來總結兩者的區(qū)別就是:統(tǒng)治半導體行業(yè) 60 多年的摩爾定律,追求的是晶體管尺寸越小越好,也叫“幾何微縮”。韜定律追求的是,信號傳播越快越好,也叫“時間縮微”。
這也就是何庭波在研討會上所提出的,以“時間縮微”替代“幾何縮微”。
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5月25日,何庭波在2026國際電路與系統(tǒng)研討會上/新華社發(fā)
τ,讀作/?ta?,對許多人來說,它很陌生。在電路理論中,它代表著時間常數(shù),等于電阻乘以電容,單位是秒,表示著一個信號在電路中穩(wěn)定下來所需要的時間,它意味著延遲與等待,那些體感難以察覺卻真實存在的時間。
在芯片工業(yè)過去幾十年的敘事中,衡量進步的方式一直是空間。芯片行業(yè)長期用納米標注芯片的技術世代節(jié)點,90nm、65nm、45nm、22nm、7nm、3nm,數(shù)字越小,芯片越快,技術也就越進步。因此,很多人會以為“3nm制程芯片”代表著芯片中某個關鍵元件或者結構的尺寸就是 3nm。
早年間確實如此。在摩爾定律剛被提出時,這種理解基本成立,行業(yè)以芯片晶體管柵極的物理長度來描述半導體的技術制程。這是當年統(tǒng)一各大半導體制造商的標準化方法。一則方便命名,二則建立一套行業(yè)評價體系。柵極越短,開關速度越快,同樣面積塞的晶體管越多,芯片越先進。
但從 1997 年起,這個對應關系就開始不太準確了。
一開始是低報,Intel 公司的 250nm芯片實際的柵極長度是 200nm,而到了 2011 年,商業(yè)產(chǎn)品的晶體管從平面結構變成了立體的 FinFET 結構,維度上的變化導致了柵極長度這個概念本來就不再適用。
事實上,22nm制程芯片實際的晶體管柵極長度是 26nm,10nm節(jié)點是 18nm,宣稱的數(shù)字幾乎只有實際的一半,廠商們開始使用“等效工藝”來標示制程,此后的節(jié)點名稱更是跟芯片上任何可測量的物理尺寸都沒有任何關系,徹底脫鉤。
今天,對于 10nm以及更先進的芯片制程來說,以“nm”為標注的芯片制程事實上其實更接近于一個性能評估。臺積電的 3nm 和三星的 3nm,從架構就不一樣,背后的實際尺寸也完全不同,但都叫 3nm。3nm 并不是任何東西的長度,只是一個名字。
這個韜定律,到底“牛”在哪?
既然在縮小這條路上走不通,如果我們需要芯片上容納更多的晶體管,那么為什么不能做更大的芯片?答案是:可以,但是也不太可以。
首先是制造芯片的光刻機存在著物理極限。第二個問題是良品率。在制造過程中,晶圓的表面不可能完美無瑕,業(yè)界用“缺陷密度”來衡量瑕疵的比例。因而在缺陷密度固定的情況下,裸片面積越大,遇到缺陷的概率就越高,良品率也就越低。
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光刻機。圖庫版權圖片,轉載使用可能引發(fā)版權糾紛
于是行業(yè)開始想辦法繞路。
一種思路是平面拼接,既然大芯片的良品率低,那么就用幾顆小芯片拼接到一起,行業(yè)術語叫做 chiplet。但平面拼接有一個天然的缺陷,芯片的計算能力和面積成正比,但拼接時許多關鍵通道:內(nèi)存帶寬,內(nèi)部連接,供電等,都只能從芯片邊緣進出,近似和邊長成正比,故而用平面拼接時,芯片越大,計算能力和信號通訊能力之間的剪刀差越大。這是一個由物理拓撲決定的問題,跟制程先不先進無關。
這就引出了另一種思路,立體疊加。AMD 的 3D V-Cache 在 CPU 芯片上方額外疊了一層 SRAM 緩存,以此來擴展 L3 緩存。Intel 的 Foveros 將不同功能的芯片上下堆疊,計算核心用先進制程,I/O 用成熟制程,各取所長。而臺積電的 SoIC 則提供了晶圓級的 3D 疊加能力。這些方案雖然確實繞過了光罩極限和良率墻,也能一定程度上縮小通訊剪刀差。但它們疊的都是功能各自獨立的模塊,一顆芯片上面摞另一顆芯片,或者一塊緩存,各層芯片內(nèi)部仍然是傳統(tǒng)的設計。
以上所述,都是在先進工藝基礎上各大廠商們所面臨的困難與選擇。
那么如果連先進制程本身都做不到呢?制程工藝受光刻機限制暫時無法突破,手機芯片又無法采用多芯并行處理,極為考驗核心芯片能力,那么在這種困境下,如何制造下一代芯片?華為面臨的,就是這樣的困境。
華為想到的辦法叫做邏輯折疊(LogicFolding),而支持它的理論框架,回到了開頭提到的那個 τ ,時間參數(shù)。
數(shù)字電路中可以粗略分出兩種單元:一種是由邏輯門組成的網(wǎng)絡,負責完成運算;一種是觸發(fā)器或者寄存器,負責存儲狀態(tài)。
在一個時鐘周期內(nèi),信號從一組寄存器觸發(fā),通過一串邏輯門網(wǎng)絡完成運算,并在下一個時鐘脈沖到來之前,抵達下一組寄存器。在所有這些過程路徑中,延遲最長的那一條叫做關鍵路徑,芯片頻率的上限取決于信號走完這條路徑的時間。
關鍵路徑里的時間開銷主要來源于邏輯門的互聯(lián),傳統(tǒng)芯片會將所有邏輯門鋪在同一個平面上,導線在上方的金屬層里橫向布線。而導線越長,關鍵路徑的延遲也就越長。
邏輯折疊的思路是將關鍵路徑上的邏輯門分布在上下兩層上,然后縱向連接,這樣原本需要在平面繞路的導線只剩上下一小段垂直連接,這樣信號傳輸快了,同一個制程下芯片的頻率就能上去。大家可以理解成以前的立體堆疊都是芯片本身在堆疊,分開仍然是完整的芯片,而邏輯折疊想要的上下兩層芯片其實是一個連續(xù)的整體,不可分離。
這樣,華為就能通過縮短延遲時間,來達到同更先進工藝等效的芯片工藝制程。但華為的野心還不止于此,邏輯折疊解決的是芯片內(nèi)部導線的延遲問題,但延遲并不只存在于一顆芯片內(nèi)部。從晶體管開關的皮秒,到芯片訪問內(nèi)存的納秒,到數(shù)據(jù)在服務器之間傳輸?shù)奈⒚耄恳粋€層級都有自己的時間瓶頸。
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微芯片技術。圖庫版權圖片,轉載使用可能引發(fā)版權糾紛
τ 定律,想做的就是把所有這些層級的延遲統(tǒng)一到同一個指標下:特征時間常數(shù) τ。
既然時間才是真正的瓶頸,芯片的工藝進步只是壓縮時間的手段之一,那么就以時間為優(yōu)化目標,將時間作為統(tǒng)一的度量衡,衡量整體的時間延遲,在每一層想辦法去壓縮它。在傳統(tǒng)以“納米”為衡量的工業(yè)標準外,打開一個新的維度,也給業(yè)界看到一個新的可能。
普通人什么時候可以用上采用韜定律的芯片?
嚴格來說,τ 定律目前尚不足以成為“定律”。
摩爾定律是 Gordon Moore 在 1965 年所作出的預言,而后行業(yè)用了多年的數(shù)據(jù)去驗證,方才在 1975 年由 Carver Mead 命名成為定律。而τ 定律目前來說,更像是一個帶有明確目標的芯片工業(yè)方法論或者提案呼吁。能否從華為一家的技術路線圖成為行業(yè)認同的標準,還需要時間來驗證和回答。
而華為自己也在論文中列出了一些困難和挑戰(zhàn),現(xiàn)有的 EDA 工具是為平面設計開發(fā)的,不支持跨層聯(lián)合設計優(yōu)化,而不同硅片之間的工藝偏差遠大于同一晶圓內(nèi)部,對良品率和時序都構成挑戰(zhàn),每一個用于芯片層級之間通訊的混合鍵和硅通孔本身也有 RC 開銷,必須逐層證明折疊的收益。而采用邏輯折疊設計思路的 Kirin 2026 芯片尚且只在關鍵路徑上局部折疊,遠沒鋪開到整個設計。
挑戰(zhàn)與機遇總是并行,新的方向能否順利前行,答案不在論文里,在未來的芯片里。好在不用等太久,2026 年秋,等效 2nm 制程的 Kirin 2026 芯片就會上市。第一個答案,很快就來。
策劃制作
作者丨antares 計算機圖形學碩士、游戲行業(yè)從業(yè)者、科普作家
審核丨姬揚 浙江大學物理學院教授
孫明軒 上海工程技術大學教授 中國科普作家協(xié)會會員
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