提到氮化鎵(GaN),多數人會想到650V以下的快充等消費場景。即便部分GaN HEMT能達到1200V、10kW開關功率,商用橫向GaN的擊穿電壓仍有局限。為讓GaN突破 650V領域,在10kW~10MW高功率場景發(fā)揮作用,垂直結構應運而生——它能在不擴大芯片尺寸的前提下提升擊穿電壓,還能通過將峰值電場與熱量轉移到體襯底,優(yōu)化可靠性與熱管理。
但vGaN過去的痛點一直是成本,氮化鎵晶圓價格高昂,制約了經濟可行性。不過這一局面似乎正被打破。安森美(ONsemi)近期推出劃時代的垂直GaN(Vertical GaN,vGaN),已向早期客戶提供700V和1200V樣品,目標直指AI數據中心800V系統、電動汽車、儲能等原本獨屬于SiC的領域,GaN的發(fā)展軌跡正在被改寫。
vGaN,即將規(guī)模化?
回顧前幾年,專注于vGaN的NexGen曾在2023年圣誕節(jié)前夕宣布破產,工廠隨之關閉,工人也被解雇。2025年1月,安森美(ONsemi)以2000萬美元的價格購買了位于紐約州德威特的原NexGen Power Systems氮化鎵晶圓制造廠,包含NexGen的知識產權以及 NexGen所擁有的DeWitt工廠的設備。
NexGen此前在vGaN領域頗有進展:2023年2月,NexGen宣布將提供700V和1200V的GaN樣品;2023年7月,NexGen還宣布與通用汽車合作的GaN主驅項目已獲得美國能源部(DoE) 的資助——使用NexGen的vGaN器件來開發(fā)的電力驅動系統。但故事隨著破產戛然而止。
而現在,安森美(ONsemi)在收購NexGen后,重新將vGaN發(fā)揚光大,并成為率先將vGaN規(guī)模化的企業(yè)。在其官網上,安森美充分介紹了在吸納了這家公司后,vGaN的最新進展。
首先,對于vGaN來說,穩(wěn)定的制造和供應是最重要。從PPT中,我們看到了安森美的野心:其研究人員研究這項技術已超過15 年,擁有130+項專利,研發(fā)工作在一座面積達66,000平方英尺的潔凈室設施內進行,該設施配備了用于vGaN生產的專用設備。下一代GaN-on-GaN將在安森美位于紐約州錫拉丘茲的晶圓廠開發(fā)和制造。
平面/橫向GaN器件通常基于非本征/異質襯底,如Si、SiC、藍寶石,或者說GaN-on-Si /SiC/藍寶石,但vGaN器件峰值電場往往出現在遠離表面的位置,所以主流采用同質襯底,即GaN自支撐,也就是GaN-on-GaN。一直以來,GaN-on-GaN成本較高,所以有些企業(yè)/團隊選擇研究GaN-on-Si。
安森美vGaN選擇采用了GaN-on-GaN 同質外延結構。安森美還放出了一張PPT,展示了GaN-on-GaN的優(yōu)勢:
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核心工藝采用安森美專有GaN生長工藝,直接在GaN晶圓上生長厚且無缺陷的GaN層,需高精度外延技術與創(chuàng)新制造方法。pGaN和nGaN通過外延生長。值得注意的是,安森美解決了一個關鍵難題:掌握圖案化表面上pGaN再生長技術(GaN摻雜需在外延生長中原位進行,pGaN再生長難度極高),并擁有該技術的多項專利。
晶體結構上,具有六方纖鋅礦結構,具備獨特的電子與光學特性,高鍵合強度、低本征缺陷,穩(wěn)定性與可靠性優(yōu)于傳統材料(Si、SiC、橫向GaN)。生長在極高溫度下生長,進一步提升vGaN器件的穩(wěn)定性與性能。
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其次,器件的實現也是vGaN的重要課題。根據其PPT顯示,安森美選擇采用e-JFET(結型場效應晶體管)的器件形式,提供可擴展、高導電功率開關,實現了較低的整體導通電阻 RDS (ON),具備完整的雪崩能力。
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目前,根據安森美的披露,其已向早期客戶提供700V和1200V器件樣品,通過技術演示可實現最高3300V的電壓等級。
在效率和尺寸上,其vGaN也實現了能降低能量損耗、減少熱量產生,使功率轉換器縮小至平裝書大小,實現系統小型化與高集成度。
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最后,應用也相當重要。安森美認為vGaN可以充分滿足當前市場需求,能夠滿足AI數據中心對于提升計算密度的需求、滿足EV延長續(xù)航和快充的需求、滿足可再生能源降本增效的需求,并解決傳統材料(Si、SiC)在效率與尺寸上的瓶頸,通過對比來看,GaN本身的材料屬性,便可天生應對高頻的應用:
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當然,隨著GaN能夠逐漸應對一些大功率的場景,那么它該和SiC怎么分配。安森美作為一家深耕SiC的公司也給出了答案——IGBT、SiC、SJ、vGaN這些技術有重合,但也有屬于自己的擅長領域:
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從橫向到垂直,怎么就更好了
可能有些人有疑問,為什么電流從橫向變成垂直,器件的擊穿電壓就更高了,GaN為什么就能應對650V以上甚至是3300V場景了?
垂直結構之所以具備優(yōu)勢,核心在于它更容易觸發(fā)雪崩效應。當電壓超過擊穿值時,雪崩現象會先通過反向極化的柵源二極管發(fā)生。隨著雪崩電流逐漸增大,柵源電壓會隨之升高,進而讓器件的溝道打開并實現導通。這種雪崩特性是器件自我保護的關鍵:一旦器件兩端電壓或導通電流出現峰值,具備該特性的器件就能吸收這些電涌,確保自身保持正常運行狀態(tài)。
此外,vGaN半導體的電流垂直流經材料層,從而大幅降低了單位面積電阻,能夠提高能效,減少功率轉換損耗,特別適用于電動汽車的逆變器和其他高頻、高效能的應用。
vGaN器件在結構上還自帶獨特優(yōu)勢。一方面,在器件面積相同的前提下,它可以通過增加晶體管內部漂移層(主要作用是傳導電流)的厚度,來提升自身的電壓等級,從而適配更高電壓的應用場景。另一方面,它的電流導通路徑面積更大,這使得它能夠承受更高的電流密度,在高電流工況下也能穩(wěn)定工作。
怎么判斷一個器件是vGaN還是橫向GaN?事實上,我們要反推到晶圓上,晶圓雖然是薄薄的一片,但也分正反面。柵極(G)、源極(S)、漏極(D)都在正面的,但通過某種方式,讓電子移動路徑變?yōu)椤霸礃O→垂直向下→橫向流過外延層→再垂直向上到達漏極”的叫做準垂直型(Quasi-vertical)GaN,G、S在正面而D在背面的則為全垂直型(Full-Vertical)GaN。
從器件實現上來看,橫向GaN中大多采用高電子遷移率晶體管(HEMT)設計,GaN HEMT與傳統硅基功率晶體管相比,具有顯著的性能優(yōu)勢,且成本越來越低。橫向結構的另一個優(yōu)點是有潛力在氮化鎵功率HEMT芯片上集成有源或無源器件,實現諸如柵極驅動器、傳感或保護電路等功能,這就是所謂的氮化鎵功率集成電路或氮化鎵功率集成。
不過,HEMT結構缺點是在另一襯底上外延生長(異質外延生長)時,在晶體層中會出現許多晶格缺陷。對于硅上生長的氮化鎵,缺陷密度108至1010cm?2。這些缺陷會影響部件在高壓下的可靠性。因此,目前市場上沒有額定電壓超過900V的GaN HEMT,大多數端電壓最高為650V。
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GaN-on-Si HMET結構代表原理圖,圖源丨NexGen
實現vGaN器件主要有五種方法:
溝槽金屬氧化物半導體場效應晶體管(Trench MOSFET);
鰭式場效應晶體管(FinFET);
結型場效應晶體管(JFET);
垂直結構肖特基二極管(SBD);
電流孔徑垂直電子晶體管(CAVET)。
不同廠商采用了不同的路線:桑迪亞國家實驗室、山大/華為采用溝槽柵極垂直MOSFET、安森美(NexGen)采用JFET、Odyssey采用平面柵極MOSFET和FinFET、中鎵科技采用垂直GaN-on-GaN SBD。
CAVET比較特殊,具有與傳統HEMT相同的異質結構和相同的柵極模塊。在CAVEAT中,源區(qū)域由在AlGaN/GaN界面附近的GaN通道中形成的二維電子氣體(2DEG)組成,如 HEMT中。溝槽孔將2DEG連接到孔徑下方的n-GaN區(qū)域中形成的漏極。位于孔徑上方的肖特基柵極調節(jié)器件的電流。如下圖:
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廠商不斷加碼
除了安森美,其實vGaN的市場還是很熱鬧的,很多廠商都在不斷推進vGaN的規(guī)模化落地。
PI
2024年5月,Power Integrations(PI)宣布收購Odyssey資產,而Odyssey恰好是一家vGaN公司。Odyssey不止一次強調,其650V和1200VvGaN器件提供更低的導通電阻和更高的品質因數,其導通電阻僅為碳化硅(SiC) 的十分之一,并且工作頻率顯著提高。2022年,Odyssey表示已獲得三個客戶的承諾來評估這些第一代產品樣品。2023年,Odyssey表示正在美國制造工作電壓為650V和1200V的vGaN FET晶體管樣品。
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信越化學
信越化學主要掌握兩個關鍵技術,有望將材料成本降低90%:一是用GaN工程襯底實現了1800V耐壓,2019年信越化學獲得了美國QROMIS的(QST)工程襯底專利許可;二是襯底剝離技術,QST襯底至今未被大規(guī)模商用的原因在于缺乏高效剝離技術,信越化學聯合日本沖電氣工業(yè)(OKI)開發(fā)了CFB(晶體膜鍵合)技術,實現了GaN功能層與QST襯底的分離,同時還很好地解決缺陷問題,從而使高質量的QST襯底得到極大的改進。
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博世
博世對vGaN也躍躍欲試。2022年,消息稱博世在采用一家GaN初創(chuàng)公司的外延技術開發(fā)垂直氮化鎵器件。
此外,博世在歐洲還參與了由公共資金支持的“YESvGAN”項目,旨在與超過20家工業(yè)伙伴共同推動vGaN半導體技術的突破。
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Hexagem
2022年報道顯示,隆德大學的衍生公司Hexagem正在開創(chuàng)一種垂直納米線生長工藝,與現今典型的橫向GaN器件相比,這些vGaN器件每平方厘米包含的缺陷要少得多。Hexage在2015年從隆德大學分立而出,Hexagem的路線是獨一無二的。其正在使用硅襯底并結合獨特的納米線聚結技術。
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Vertical Semiconductor
一家新成立的公司,在近期剛剛拿到1100 萬美元種子輪融資,由Playground Global領投,信越化學(Shin-Etsu Chemical)、JIMCO Technology Ventures與milemark?capital共同參與。該公司用一項源自MIT實驗室的vGaN結構,挑戰(zhàn)數據中心電力路徑的密度極限。
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山大與華為
山東大學和華為前陣子發(fā)布了一個論文,宣布在中國使用氟(F)離子注入終端(FIT)在全垂直氮化鎵(GaN)硅基硅(Si)溝槽金屬氧化物半導體場效應晶體管(MOSFET)中實現了1200V擊穿性能。
該團隊創(chuàng)新地應用氟注入終端結構的1200V全垂直Si基GaN溝槽MOSFET(FIT-MOS),氟注入終端FIT區(qū)域固有的具有負性電荷成為阻性區(qū)域,天然的隔離器件,取代了傳統的mesa刻蝕終端(MET),消除了mesa邊緣的電場集中效應,從而將FIT-MOS的BV從MET-MOS的567V提升到1277V。此外,所制造的FIT-MOS表現出3.3V的Vth,ON/OFF為達到了1e7,Ron,sp為5.6mΩ·cm2。這些結果表明,具有很好的性價比的Si基GaN垂直晶體管在kV級應用中具有很大的潛力。通常,電隔離GaN半導體器件都采用了MET,但MET會導致相對尖銳的拐角,電場往往會擁擠,導致過早擊穿。MET-MOS全垂直MOSFET的擊穿電壓約為650V。而改革團隊的FIT-MOS器件的擊穿電壓達到1277V,提升了超125%。
FIT-MOS的vGaN的指標很不錯:比導通電阻(Ron,sp):5.6mΩ·cm2導通電流密度:8kA/cm2開關電流比:10?閾值電壓(VTH):3.3V(E-mode)漂移層厚度:7μm
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中鎵科技
中鎵科技曾宣布制備的垂直型GaN–on-GaN SBD器件同時實現了較高的擊穿電壓和較低的開啟電壓,以上各項數據均達到國際領先水平,與已報道的傳統垂直型GaN SBD相比表現出了優(yōu)異的特性。
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此外,在2022年,中鎵科技宣布與北京大學、波蘭國家高壓實驗室開展了合作,使用乙烯氣源制備出了世界最高電阻率的半絕緣GaN自支撐襯底。此外,在硅襯底上,廣東致能全球首次實現了垂直的GaN/AIGaN結構生長和垂直的二維電子氣溝道(2DEG)。以此為基礎廣東致能實現了全球首個具有垂直2DEG的常開器件(D-mode HEMT)和垂直常關器件(E-mode HEMT)。
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總結
當前GaN功率技術呈現出兩大發(fā)展趨勢。其一,是將系統外圍設備與功率晶體管進行單片集成,這種方式不僅能降低系統成本與物料清單成本,更關鍵的是可以顯著提升整體性能。其二,便是通過開發(fā)vGaN來提高器件的擊穿電壓,進而實現更高的開關功率。
隨著安森美先一步在vGaN重點布局,一個全新的市場正在被開辟。
參考文獻
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[3]Bodospower:https://www.bodospower.com/pdf/bp_article_2262.pdf
[4]Powerelectronicsnews:https://www.powerelectronicsnews.com/advances-in-the-development-of-vertical-gan-transistor-technology/
[5]EETimes:https://www.eetimes.com/vertical-gan-devices-the-next-generation-of-power-electronics/
[6]宴小北:https://mp.weixin.qq.com/s/PfbRCFENmjPSA3BQ3zCXnQ
[7]未來芯研究:https://mp.weixin.qq.com/s/skiKnkedpYGO35E5kVJL5g
[8]三代半食堂:https://mp.weixin.qq.com/s/jj7WPn-k1cXG9WLdB-6OKA
[9]博世汽車電子事業(yè)部:https://mp.weixin.qq.com/s/W9sGbIqPCdeB0b_vVp_Ibw
[10]雅時化合物半導體:https://mp.weixin.qq.com/s/ccjdr2ZhqGKM8PFvgMScWw
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