北京
PART1
研討會基本信息
NI測試測量技術(shù)研討會再次起航，以AI+測試為主題，走遍全國多個城市，與全國各地朋友相聚，共同探討AI+測試的落地，共贏智能測試的未來。
PART2
為什么參會？
聚焦“測試 + AI”前沿趨勢，探討 AI 如何真正賦能測試開發(fā)流程
深度解析 NI Nigel? AI如何提升 LabVIEW 與 TestStand 的工作效率
分享 PXI 平臺自動化測試方案，加速系統(tǒng)級測試構(gòu)建
多個專題覆蓋光電、高速 ADDA 等關(guān)鍵測試方向
前沿射頻應(yīng)用方案及案例
現(xiàn)場 Demo 參觀與互動交流，直觀了解方案應(yīng)用場景
PART3
誰適合參加？
測試測量工程師、研發(fā)工程師
工程團隊負(fù)責(zé)人，技術(shù)總監(jiān)
院校及研究所研究人員
LabVIEW愛好者，開發(fā)者
研討會日程 （下午14:00點開始）
實機展示
NI NigelTM AI助手體驗
多通道多信號類型數(shù)據(jù)采集與分析框架
通過配置快速完成PXI自動化測試任務(wù)
6G AI 通信開發(fā)平臺
全新軟件定義無線電產(chǎn)品X420
大數(shù)據(jù)量射頻信號高速錄制回放系統(tǒng)
基于 JESD204B 協(xié)議的高速ADC測試方案
DIGILENT工程教學(xué)實驗測量平臺
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